Glosario
Glosario de algunos terminos utilizados en esta pagina.
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AFM: La Microscopia de Fuerza Atómica (Del Ingles Atomic Force Microscope), es capaz de detectar fuerzas del orden de los piconewtons, y simultanemanete es capaz de registrar su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica llamado "Cantilever".
SEM: La Microscopía Electrónica de Barrido (Del Ingles Scanning Electron Microscope), consiste en escanear una muestra, con un ház de electrones de Gran Energia. Los electrones interactuan con los átomos que componen la muestra produciendo señales sobre la información topográfica, la composición y otras características tales como conductividad eléctrica, en la muestra.
SPM: La Microscopía de Sonda de Prueba (Del Ingles Scaning Probe Microscope), consiste en formar imágenes de superficies usando una punta de prueba física que explore una muestra, se registra el movimiento de la punta para formar la imagen topográfica de la muestra escaneada.
STM: La Microscopía de Efecto túnel (Del Ingles Scanning Tunneling Microscope), consiste en hacer fluir una corriente eléctrica entre la punta y la muestra. La punta no toca la muestra, esta queda separada a una distancia constante y equivalente a un par de átomos (del orden de angstroms) de la superficie de la muestra, por lo que esta técnica provee una resolución atómica.